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SJ/T 10481-1994 硅外延层电阻率的面接触三探针测试方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-22 08:12:27  浏览:8820   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:硅外延层电阻率的面接触三探针测试方法
英文名称:Test method for resistivity of silicon epitaxial layers by area contacts three-probe techniques
中标分类: 能源、核技术 >> 能源、核技术综合 >> 技术管理
发布日期:1994-04-11
实施日期:1994-10-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:2010-01-20
出版社:电子工业部标准化研究
出版日期:2004-04-18
页数:9页
适用范围

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前言

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所属分类: 能源 核技术 能源 核技术综合 技术管理
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【英文标准名称】:StandardTestMethodforCarbonBlack,Pelleted-PourDensity
【原文标准名称】:颗粒状炭黑的标准试验方法.倾注密度
【标准号】:ASTMD1513-2005
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2005
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:炭黑;密度;天然橡胶;颗粒材料;颗粒;橡胶;合成橡胶;测试
【英文主题词】:Carbonblack;Density;Naturalrubber;Particulatematerials;Pellets;Rubber;Syntheticrubber;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:G49
【国际标准分类号】:83_040_20
【页数】:2P;A4
【正文语种】:英语


MIL-STD-203G, MILITARY STANDARD: AIRCREW STATION CONTROLS AND DISPLAYS: LOCATION, ARRANGEMENT AND ACTUATION OF, FOR FIXED WING AIRCRAFT (1 MAR 1991)., This document establishes the requirements for the uniform location , arrangement, and actuation of controls and displays used in the functional crew stations of military fixed wing aircraft.